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惠州市華高儀器設備有限公司
聯系人：范志華
電話/傳真：0752-7168848
地址：惠州市江北文昌一路11號華貿大廈T3寫字樓1707-1708
郵編：516003
郵箱：1932151337@qq.com
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X射線熒光鍍層測厚儀
- 更新日期：2025-11-14
- 訪問次數：44?
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業界。 采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720華唯
| 配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
| Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | 咸陽威思曼(國產) |
| Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
| Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um(以材料元素判定)
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開放工作區 自定義
樣品腔：330×360×100mm
X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產品介紹：
Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器)，測量精度和測量結果業界。
采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節設計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果經得起科學驗證。
樣品移動設計為樣品腔外部調節，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。
設計更科學，軟硬件配合，機電聯動，輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
Ux-720標準配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機：噴墨打印機
Ux-720可選配件
可升級為SDD探測器
可以實現全自動一鍵操作功能，準直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試報告自動彈出，供應商信息自動篩選和保存
X射線熒光鍍層測厚儀是一種用于測量各種基材表面涂層的厚度、成分和均勻性的儀器。它通過向待測物體表面發射X射線，利用物體表面的涂層中被激發出的熒光信號來分析涂層的厚度和成分。該儀器廣泛應用于材料科學、化工、制造業、質量檢驗等領域。
X射線熒光鍍層測厚儀的特點：
1.非破壞性測試：該儀器是一種非破壞性測量方法，不會對被測物品造成任何損傷。
2.測量精度高：能夠測量非常薄的涂層厚度，精度可以達到0.1微米。
3.測量速度快：能夠在幾秒鐘內完成一次測量，非常適合在生產線上進行大量測量。
4.可適用于多種材料：適用于多種材料的涂層測厚，例如金屬、塑料和陶瓷等。
5.可靠性高：采用先進的測量技術和設備，能夠保證測量結果的準確性和可靠性。
6.易于操作：操作簡單，需要較短的培訓時間，即可掌握測量技能。